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X 射線熒光鍍層測厚儀測量原理

來源:滄州歐譜??????2019-8-8 9:57:31??????點擊:
符合 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 標準的能量色散式 X 射線熒光分析 (XRFA)


測量方法:
X 射線熒光分析的基礎在于,當材料樣品中的原子被初級 X 射線激發時,來自最內層電子層的電子將釋放出來;所產生的空位由來自外層電子層的電子填充。

在電子躍遷的過程中,每種元素都會產生其特有的特征X射線熒光輻射。探測器可接收到該熒光輻射并能據此給出樣品成分的相關信息。

(本文來源:滄州歐譜,轉載請注明出處 www.674197.tw)
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