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熒光測厚儀

熒光測厚儀

熒光測厚儀,即x射線熒光鍍層測厚儀,利用X-射線照射物體待測部位,從而使鍍膜、素材及中間層膜產生特定的X-射線,檢測系統將其轉換為與X射線強度成比例的電信號,經由儀器記錄處理即可得到鍍膜的厚度。X射線熒光鍍層測厚儀,有著快速、準確、非破壞、非接觸、小面積測量、多層合金測量、高生產力、高再現性等優點,對產品質量管理及企業成本節約有著重要作用,廣泛應用于電子元器件、半導體、PCB、汽車零部件、功能性電鍍、裝飾件、連接器等行業。

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